Дифракционный структурный анализ
Э. В. Суворов.
В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами....
ISBN: 978-5-534-17203-4
Издательство:
Юрайт
Дата выхода: июнь 2024
Найденных опечаток пока нет
Добавить запись