везде Расширенный поиск
книги Наука, техника, медицина Естественные науки Точные науки Физика

Ming Xiao

Single Electron Spin Measurements in Submicron Si MOS-FETs. Random Telegraph Signal, Single Electron Spin Resonance

Код 912542

Бумажная книга

Нет в продаже

Сообщить о появлении

Аннотация к книге "Single Electron Spin Measurements in Submicron Si MOS-FETs. Random Telegraph Signal, Single Electron Spin Resonance"

Presented is our measurements of a single electronic spin in the gate oxide of submicron-size silicon field effect transistors. Defects near the silicon and silicon dioxide interface have profound effects on the transistor conduction properties. For a submicron transistor, there might be only one isolated trap state that is within a proper tunneling distance regarding to both the coordinate and energy. We have studied the statistics and dynamics of individual defects extensively by random...

Оставить замечание о найденной опечатке Версия для печати

Оставить комментарий

Оцените книгу:

Издательство: Книга по требованию
Дата выхода: июль 2011
ISBN: 978-3-8364-9375-8
Объём: 124 страниц
Масса: 209 г
Размеры(высота, ширина, толщина), см: 23 x 16 x 1

Вместе с этой книгой покупают

Испанский язык. Начальный курс
Испанский язык. Начальный курс бумажная книга
В. С. Барсукова
15.89 USD
В корзину
Фридрих Львиный зев верхом на шмеле
Фридрих Львиный зев верхом на шмеле бумажная книга
Верена Райнхардт
16.32 USD
В корзину
Вот ты где! Божья коровка
Вот ты где! Божья коровка бумажная книга
Ко Йосун
13.07 USD
В корзину
Дата-ориентированное программирование
Дата-ориентированное программирование бумажная книга
Йонатан Шарвит
14.85 USD
В корзину
Сценарии жизни людей Школа Эрика Берна
Сценарии жизни людей Школа Эрика Берна бумажная книга
Клод Штайнер
Нет в продаже
Хороший Сталин
Хороший Сталин бумажная книга
Виктор Ерофеев
Нет в продаже