Пособие посвящено описанию теоретических основ и методических подходов к исследованию систем пониженной размерности посредством инфракрасной спектроскопии. Для студентов и аспирантов, специализирующихся в области физики полупроводников, оптики твердого тела и оптических методов исследования новых материалов, а также для дополнительного обучения в рамках физико-химических, материаловедческих...
ISBN: 978-5-8114-2378-1
Издательство:
Лань
Дата выхода: декабрь 2018
Найденных опечаток пока нет
Добавить запись