ДИФРАКЦИОННЫЙ СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ 2-е изд., пер. и доп. Учебное...
Суворов Э. В.
В пособии рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. В...
ISBN: 9785534150049
Издательство:
Юрайт
Дата выхода: сентябрь 2021
Оставить комментарий