книги Наука, техника, медицина Техника Радиоэлектроника

Основы сканирующей зондовой микроскопии

Код 230464

Нет в продаже

Аннотация к книге "Основы сканирующей зондовой микроскопии"

Первое учебное пособие на русском языке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур — от туннельных до атомно-силовых и магнитно-силовых микроскопов. Подробно описаны применяемые конструкции и схемные решения аппаратуры, особенности применения. Для студентов и преподавателей физических, приборостроительных и материаловедческих специальностей.

Оставить комментарий

Оцените книгу:

Издательство: Техносфера
Серия: Мир физики и техники
Дата выхода: ноябрь 2004
ISBN: 5-94836-034-2
Тираж: 1 500 экземпляров
Объём: 144 страниц
Масса: 311 г
Размеры(высота, ширина, толщина), см: 22 x 15 x 1
Обложка: твёрдая
Цветные иллюстрации +

Книга находится в категориях

Пятница 2018

Вместе с этой книгой покупают