книги Электронные книги Наука, техника, медицина Точные науки

Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств

Код 4652751

  • 150 кб
  • июнь 2014

Аннотация к книге "Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств"

В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.

Оставить комментарий

Оцените книгу:

Правообладатель: Синергия
Дата выхода: июнь 2014
Размер файла: 150 Кб
Поставщик контента: ООО «ЛитРес»

Вместе с этой книгой покупают