Добро пожаловать! Вы можете войти или зарегистрироваться
Обратная связь
Visa MasterCard WebMoney Яндекс.Деньги PayPal
+7 (495) 638-5305
+7 (812) 380-5006
Мой регион
[Previous]
[далее]
Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
Заглянуть внутрь
Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств






И. Атовмян, В.В. Шувалов, Е. Березкин, С.М. Ковалевский

Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств

электронная книга

    pdf
     
(0 голосов )
  • 150 кб
  • июнь 2014

Аннотация к книге "Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств"

В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.