Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и...
Дракин А. Ю., Зотин В. Ф., Потапов Л. А.
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров. Монография предназначена для инженерно-технических...
ISBN: 978-5-8114-8773-8
Издательство:
Лань
Дата выхода: октябрь 2021
Найденных опечаток пока нет
Добавить запись