В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство...
ISBN: 978-5-9765-0207-9
Издательство:
Флинта
Дата выхода: январь 2007
Найденных опечаток пока нет
Добавить запись