книги Наука, техника, медицина Техника Радиоэлектроника

Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов. Монография, 2-е изд., стер

Код 5295567

  • ISBN: 978-5-8114-8773-8
  • 284 страницы
  • октябрь 2021
  • Лань

Наличие на складе

Склад в Москве

Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 10.08.2025; планируемая отправка: 11.08.2025

Склад в С.-Петербурге

Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 07.08.2025; планируемая отправка: 08.08.2025

Аннотация к книге "Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов. Монография, 2-е изд., стер"

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров. Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам,...

Оставить комментарий

Оцените книгу:

Издательство: Лань
Дата выхода: октябрь 2021
ISBN: 978-5-8114-8773-8
Объём: 284 страниц

Вместе с этой книгой покупают

Просмотренные товары

Просмотренные категории

Stevie Ray Vaughan