Функциональная устойчивость сверхбольш.интегр.схем
В монографии рассмотрена проблема оценки качества сверхбольших интегральных схем (СБИС). Прогресс в их изготовлении не обеспечен методологией оценки результатов испытаний на надежность как свойства высокого качества. Для решения данной проблемы вводится понятие "электронного функционала" и предлагается учитывать показатель его функциональной устойчивости, который определяет вероятность...
ISBN: 9785732511154
Издательство:
Политехника
Дата выхода: август 2017
Найденных опечаток пока нет
Добавить запись