книги Наука, техника, медицина Техника Теоретические основы

Инженерные основы измерений нанометровой точности

Код 4245729

Наличие на складе

Склад в Москве

Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 29.04.2024; планируемая отправка: 30.04.2024

Склад в С.-Петербурге

Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 02.05.2024; планируемая отправка: 03.05.2024

Аннотация к книге "Инженерные основы измерений нанометровой точности"

Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемости измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс.
Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей.

Оставить комментарий

Оцените книгу:

Издательство: Интеллект
Дата выхода: январь 2012
ISBN: 978-5-91559-119-5
Объём: 400 страниц
Обложка: твёрдая

Книга находится в категориях

распродажа

Вместе с этой книгой покупают