Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов
Фульц Б., Хау Дж. М.
В третьем издании книги представлены новые достижения в области микроскопии и экспериментальных методов дифракции. Новое издание увеличилось на одну главу. Внесены существенные изменения в главы 1, 3, 7, 8 и 9. Текст полностью отредактирован для большей ясности изложения и исправления недостатков, обнаруженных в ходе преподавания. Книга представляет интерес для ученых, инженеров и преподавателей высшей...
ISBN: 978-5-94836-291-5
Издательство:
Техносфера
Дата выхода: ноябрь 2011
Найденных опечаток пока нет
Добавить запись