книги

Дифракционный структурный анализ

Код 5516154

Наличие на складе

Склад в Москве

Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 17.08.2025; планируемая отправка: 18.08.2025

Склад в С.-Петербурге

Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 20.08.2025; планируемая отправка: 21.08.2025

Аннотация к книге "Дифракционный структурный анализ"

В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Соответствует актуальным требованиям федерального государственного образовательного стандарта среднего профессионального образования и профессиональным требованиям. Для студентов среднего профессионального образования.

Оставить комментарий

Оцените книгу:

Издательство: Юрайт
Серия: Профессиональное образование
Дата выхода: июнь 2024
ISBN: 978-5-534-17188-4
Объём: 342 страниц

Вместе с этой книгой покупают

Просмотренные товары