книги

Дифракционный структурный анализ

Код 5516153

Наличие на складе

Склад в Москве

Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 17.08.2025; планируемая отправка: 18.08.2025

Склад в С.-Петербурге

Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 20.08.2025; планируемая отправка: 21.08.2025

Аннотация к книге "Дифракционный структурный анализ"

В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Содержание курса соответствует актуальным требованиям федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям.

Оставить комментарий

Оцените книгу:

Издательство: Юрайт
Серия: Высшее образование
Дата выхода: июнь 2024
ISBN: 978-5-534-17203-4
Объём: 342 страниц

Вместе с этой книгой покупают

Просмотренные товары

Просмотренные категории

Социальная психология Боевики, детективы Иностранные языки Беллетристика