Впервые опубликованный в 1994 году (и с тех пор переизданный девять раз), этот учебник используется во всем мире как студентами, так и практикующими инженерами. Настоящее издание предлагает более детальное описание полупроводниковых приводов, дополнено многочисленными примерами решенных и нерешенных задач.
Книга предназначена для студентов и аспирантов, изучающих электродвигатели, а также инженеров...
В книге охвачены все области ядерно-магнитного резонанса: методология, оборудование, химический анализ, двумерная спектроскопия, ЯМР-визуализация, ЯМР подвижных жидкостей, контроль качества при помощи ЯМР. Это наиболее полный учебник по ЯМР на сегодняшний день. Книга предназначена для преподавателей, аспирантов и студентов, изучающих физику, химию, химическое машиностроение и материаловедение, а также...
"Справочник по физике" был создан коллективом опытных преподавателей вузов, ученых и инженеров. Девиз книги - лаконичность и удобство. В ней компактно собраны все важные формулы, таблицы и другой инструментарий, рассмотрены способы их использования.
"Справочник по физике" представляет базовые знания, необходимые поступающим в вузы, выпускникам средних специальных учебных заведений, студентам вузов;...
Перевод 9-го издания широко известного руководства немецких авторов. Особое внимание уделено конструктивным элементам оптических систем, методам расчета геометрической оптики, источникам и приемникам света, всем существующим видам оптических инструментов. Описаны интерференционные методы, цветовые измерения, дифракционные решетки и поляризаторы.
Специально для русского издания написаны дополнения...
Первое учебное пособие на русском языке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур — от туннельных до атомно-силовых и магнитно-силовых микроскопов. Подробно описаны применяемые конструкции и схемные решения аппаратуры, особенности применения. Для студентов и преподавателей физических, приборостроительных и материаловедческих...
В третьем издании книги представлены новые достижения в области микроскопии и экспериментальных методов дифракции. Новое издание увеличилось на одну главу. Внесены существенные изменения в главы 1, 3, 7, 8 и 9. Текст полностью отредактирован для большей ясности изложения и исправления недостатков, обнаруженных в ходе преподавания.
Книга представляет интерес для ученых, инженеров и...
Книга посвящена вопросам практического применения сканирующей (растровой) электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. В первой части описаны основные принципы и устройства, используемые в сканирующей электронной микроскопии. При этом изложен минимум информации, необходимый для понимания возможностей этого метода, правильной постановки задач для сканирующей электронной...
