книги

Фундаментальные основы анализа нанопленок

Код 3129904

Наличие на складе

Склад в Москве

Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 28.05.2024; планируемая отправка: 29.05.2024

Склад в С.-Петербурге

Ожидаемое поступление (если вы сделаете заказ прямо сейчас): 31.05.2024; планируемая отправка: 01.06.2024

Аннотация к книге "Фундаментальные основы анализа нанопленок"

Книга посвящена рассмотрению проблем фундаментальной физики, лежащих в основе методов, используемых для изучения поверхностей и приповерхностных слоев материалов. Появление и развитие таких аналитических методик, основанных на явлениях взаимодействия частиц и излучения с веществом, обусловлено, прежде всего, ростом технологических потребностей. Ионная имплантация, электронные пучки и лазеры используются также и для модификации состава и структуры материалов. Осаждение потоков частиц, получаемых...

Оставить комментарий

Оцените книгу:

Издательство: Научный мир
Дата выхода: декабрь 2012
ISBN: 978-5-91522-225-9
Объём: 392 страниц

Вместе с этой книгой покупают

Просмотренные товары