книги Наука, техника, медицина Естественные науки Точные науки Физика

Electrostatic Force Spectroscopy of Localized States. Application to single electron charging of individual quantum dots

Код 915979

Нет в продаже

Аннотация к книге "Electrostatic Force Spectroscopy of Localized States. Application to single electron charging of individual quantum dots"

Nanotechnology continues to develop novel materials and devices that can potentially improve our daily life. Atomic force microscopy (AFM) has proven to be one of the most powerful characterization tools at the nanoscale. Variants of atomic force microscopy can be used to measure electronic properties of nanostructures with single electron resolution. Scanning tunneling spectroscopy (STS) provides information about localized density of states using tunneling current measurements. In this work...

Оставить комментарий

Оцените книгу:

Издательство: Книга по требованию
Дата выхода: июль 2011
ISBN: 978-3-6392-3886-0
Объём: 128 страниц
Масса: 215 г
Размеры(высота, ширина, толщина), см: 23 x 16 x 1

Вместе с этой книгой покупают